Comparison of gamma and beta-ray irradiation effects in sol-gel Ge-doped SiO2
- Autori: Alessi, A; Agnello, S; Gelardi, FM; Sporea, DG; Oproiu, C; Brichard, B
- Anno di pubblicazione: 2009
- Tipologia: eedings
- Parole Chiave: silice drogata, difetti di punto
- OA Link: http://hdl.handle.net/10447/58086