29Si attribution of the 1.3 mT hyperfine structure of the E’_gamma centers in amorphous SiO2
- Autori: VACCARO G; AGNELLO S; BUSCARINO G; NUCCIO L; GRANDI S; MUSTARELLI P
- Anno di pubblicazione: 2009
- Tipologia: Articolo in rivista (Articolo in rivista)
- Parole Chiave: sistemi amorfi, difetti di punto
- OA Link: http://hdl.handle.net/10447/36082