Nel corso della 48° Riunione Annuale dell'Associazione Gruppo Italiano di Elettronica (GE2016), tenutasi a Brescia dal 22 al 24 giugno 2016, in cui sono stati presentati oltre 100 lavori nel campo dell'Elettronica, sono stati assegnati importanti riconoscimenti a due studi di un gruppo di ricercatori dei laboratori Laboratory of Optics and OptoelectroniX (LOOX) e Laboratorio di Elettronica delle Microonde (LEM) del DEIM della Scuola Politecnica dell'Università degli Studi di Palermo.
In particolare, la presentazione orale dal titolo "Performances of double-clamped gate Graphene Field Effect Transistor (GFETs)", autori M.A. Giambra, C. Benz, F. Wu, M.H. Jang, J.-H. Ahn, S. Stivala, E. Calandra, A. Busacca, W.H.P. Pernice, e R. Danneau, è stata insignita del premio "Best oral presentation" nella sessione "Microwave electronics and radiation detection". Il lavoro nasce dalla collaborazione dei ricercatori del LOOX-DEIM dell'Università degli Studi di Palermo con i ricercatori dell'Institute of Nanotechnology (INT) del Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Karlsruhe, Germania e della School of Electrical and Electronic Engineering della Yonsei University, Seul, Corea del Sud.
Il secondo lavoro, dal titolo "Photocurrent generation in Graphene Field Effect Transistors (GFETs)", autori M. A. Giambra, A. Benfante, S. Stivala, E. Calandra, A. Busacca, W. H. P. Pernice, R. Danneau, è stato insignito del premio "Best Poster Award" nella sessione Poster. Questo studio nasce dalla collaborazione tra il gruppo di ricerca dell'Università di Palermo ed il gruppo di ricerca del KIT.
Nel corso della riunione è stato anche annunciato che la prossima Riunione Annuale dell'Associazione Gruppo Italiano di Elettronica si terrà a Palermo nel 2017.