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Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy
- Autori: Passeri, D; Dong, C; Angeloni, L; Pantanella, F, Natalizi, T; Berlutti, F; Marianecci, C; Ciccarello, F; Rossi, M
- Anno di pubblicazione: 2014
- Tipologia:
Articolo in rivista
(Articolo in rivista)
- Parole Chiave: Thickness measurement Magnetic force microscopy Atomic force microscopy Periodic magnetic domains Bacteria
- OA Link: http://hdl.handle.net/10447/98847