Salta al contenuto principale
Passa alla visualizzazione normale.

FRANCESCO CICCARELLO

Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy

  • Autori: Passeri, D.; Dong, C.; Angeloni, L.; Pantanella, F.; Natalizi, T.; Berlutti, F.; Marianecci, C.; Ciccarello, F.; Rossi, M.
  • Anno di pubblicazione: 2014
  • Tipologia: Articolo in rivista (Articolo in rivista)
  • Parole Chiave: Thickness measurement Magnetic force microscopy Atomic force microscopy Periodic magnetic domains Bacteria
  • OA Link: http://hdl.handle.net/10447/98847