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ANTONINO BUTTACAVOLI

Temperature Dependence of Terrestrial Neutron Induced Failures in Commercial Silicon and Silicon Carbide Power MOSFETs

  • Autori: Principato F.; Cazzaniga C.; Kastriotou M.; Frost C.; Buttacavoli A.; Abbene L.; Pintacuda F.
  • Anno di pubblicazione: 2022
  • Tipologia: Contributo in atti di convegno pubblicato in volume
  • OA Link: http://hdl.handle.net/10447/626933

Abstract

Accelerated neutron tests on Si and SiC power MOSFETs at different temperatures were performed at ChipIr facility (Didcot, UK). The results show a strong correlation between the temperature dependence of the avalanche voltage and that of the neutron failure rate.