Role of H2O in the thermal annealing of the E’_gamma center in amorphous silicon dioxide
- Autori: NUCCIO L; AGNELLO S; BOSCAINO R
- Anno di pubblicazione: 2009
- Tipologia: Articolo in rivista (Articolo in rivista)
- Parole Chiave: sistemi amorfi, difetti di punto
- OA Link: http://hdl.handle.net/10447/36103