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FABRIZIO MESSINA

Structural inhomogeneity of Ge-doped amorphous SiO2 probed by photoluminescence lifetime measurements under synchrotron radiation.

  • Autori: Agnello, S.; Buscarino, G.; Cannas, M.; Messina, F.; Grandi, S.; Magistris, A.
  • Anno di pubblicazione: 2006
  • Tipologia: Proceedings (TIPOLOGIA NON ATTIVA)
  • OA Link: http://hdl.handle.net/10447/15141