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PIETRO ALESSANDRO DI MAIO

Electrical Aging Tests on Enameled Wire Exposed to Gamma Irradiation

  • Authors: Guastavino, F; Ratto, A; Coletti, G; Dardano, A; Torello, E; Di Maio, PA; D’Aleo, F; Miccichè, G; Becchi, F; Talpone, F
  • Publication year: 2011
  • Type: eedings
  • OA Link: http://hdl.handle.net/10447/75978