Variability of the Si-O-Si angle in amorphous SiO2 probed by electron paramagnetic resonance and Raman spectroscopy
- Autori: Vaccaro, G; Buscarino, G; Agnello, S; Gelardi, FM
- Anno di pubblicazione: 2008
- Tipologia: eedings
- OA Link: http://hdl.handle.net/10447/98111